IC封装PCT老化试验箱厂家
第一枪帮您来“拼单”,更多低价等你来!IC封装PCT老化试验箱厂家
- 名称东莞市艾思荔检测仪器有限公司 【公司网站】
- 所在地中国 广东 东莞
- 联系人 熊海霞
- 价格 ¥65000元/台 点此议价
- 采购量 1台
- 发布日期 2023-05-03 14:24 至 长期有效
IC封装PCT老化试验箱厂家产品详情
- 品牌:艾思荔
- 类型:其他
- 型号:PCT-25
- 外箱材质:不锈钢
- 内胆材质:不锈钢
艾思荔IC封装PCT老化试验箱可测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是****环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
IC封装PCT老化试验箱技术优势:
1、采用全自动补充水位之功能,试验不中断、
2、试验过程的温度、湿度、压力,是读取相关传感器的读值来显示的,而不是通过温湿度的饱和蒸汽
压表计算出来的,能够掌握实际的试验过程。
3、干燥设计,试验终止采用电热干燥设计确保测试区(待测品)的干燥,确保稳定性。
4、准确的压力/温度对照显示,完全符合温湿度压力对照表要求。
IC封装PCT老化试验箱性能:
1、测试环境条件4、2、测试方法环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、
2、温度范围105℃→+132℃、(控制点)
3、温度波动度±0、5℃、
4、温度偏差±2、0℃、
5、湿度范围75%~100%R、H、(控制点)
6、湿度波动度±2、5%R、H、
7、湿度均匀度±5、0%、
8、压力范围0、5~2㎏/㎝2(0、05~0、196MPa)(控制点)
9、升温时间常温→+132℃35min、
10、升压时间常压→+2㎏/㎝240min
IC封装PCT老化试验箱试样限制本试验设备禁止:
*、*、易挥发性物质试样的试验或储存。腐蚀性物质试样的试验或储存。强电磁发射源试样的试验或储存。
IC封装PCT老化试验箱用途:
IC封装PCT老化试验箱 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 适用于*、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性。
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