瞬态荧光光谱系统价格服务为先-卓立汉光

Flex One 显微光致发光光谱仪

Flex One显微光致发光光谱仪可以选配自动Mapping功能附件，标准选项为50×50mm规格自动样品台，步距精度达1μm，可定制100×100mm、150×150mm等多种规格的样品台，用户可根据样品规格来设置扫描区域、扫描步长、扫描速度等，扫描速度*高可达到180点/秒，瞬态荧光光谱系统价格，空间分辨率*高可达10μm以下，扫描结果以3D模式显示。

在配置CCD时，Mapping扫描结果中：

（1）可以保存每个扫描点的光谱信息；

（2）用户可以查看每个扫描点的光谱信息，进行光谱比较分析；

（3）用户可以进行峰值波长、荧光亮度等参数的Mapping显示，得到更多信息用于材料分析。

Flex One 显微光致发光光谱仪

光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非*性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。

超低温样品室附件　　

Flex One显微光致发光光谱仪可以选配超低温样品室，标准制冷温度可达10-20K，*低可选1.7K，采用闭循环结构，使用过程中无需添加冷媒。

应用举例InGaN/GaN多*阱的PL谱和EL谱测试

● 样品提供：KingAbdullahUniversity ofScience and Technology提供的基于蓝宝石衬底MOCVD 生长的 InGaNGaN *阱● 测试条件：325nm激发，功率30mW● 光谱范围：340-700nm

1. 光致发光(PL)光谱测量

分别针对材料的正****( 红色) 和负****( 绿色) 测试得到光致发光光谱曲线如下，GaN 的本征发光峰365nm 附近以及黄带，InGaN 的发光峰475nm 附近。2. 电致发光(EL)光谱测量

将材料的正负****接到直流电源的正负****，电压加到2.5V 时可以有明显的蓝光发射，测量其电致发光光谱曲线如下（红色），峰值在475nm 附近。