稳态荧光光谱系统报价****咨询-卓立汉光

组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列

光致发光（photoluminescence）即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL 荧光测量系统通常是用较强的单色光（如激光器等）激发样品/ 材料（如GaN/ZnO 等）产生荧光，通过对其荧光光谱的测量，分析该材料的光学特性。典型应用于LED 发光材料、半导体材料的研究。

OmniPL 系列稳态荧光光谱测量系统采用模块化设计，在满足PL 光谱测量的同时，用户可以根据不同的实验需求，选择不同的配件，灵活的进行系统功能的扩展。

什么是荧光

荧光是物质吸收光照或者其他电磁辐射后发出的光。光照射到某些原子时，光的能量使原子核周围的一些电子由原来的轨道跃迁到了能量更高的轨道，即从基态跃迁到一激发单线态或第二激发单线态等。一激发单线态或第二激发单线态等是不稳定的，所以会恢复基态，当电子由一激发单线态恢复到基态时，能量会以光的形式释放，即产生荧光。

大多数情况下，发光波长比吸收波长较长，能量更低，而且一旦停止入射光，发光现象也随之立即消失。

荧光光谱包括激发谱和发射谱两种。激发谱是荧光物质在不同波长的激发光作用下测得的某一波长处的荧光强度的变化情况，也就是不同波长的激发光的相对效率；发射谱则是某一固定波长的激发光作用下荧光强度在不同波长处的分布情况，也就是荧光中不同波长的光成分的相对强度。一般来说，激发光谱与紫外- 可见吸收光谱的形状是一致的，且与荧光光谱具有镜像关系。但是如果物质的三重态*产率比较高，那么它被激发后系间窜越的几率很大， 荧光激发谱的形状会受到影响， 导致与紫外吸收光谱的形状不完全一致。

MiniPL小型深紫外宽带隙光谱发光光谱仪

光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光）光谱仪；MiniPL采用ystems公司自行研发的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作为激发光源，配合*的光路设计，采用高灵敏度PMT作为探测器件，并通过仪器内置的门闸积分平均器（Boxcar）进行数据处理，稳态荧光光谱系统报价，实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL可被用表征半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等，不仅可用于科研领用，更可用在半导体LED产业中的品质检测。