一六仪器(图)、荧光测厚仪膜厚仪、膜厚仪

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有****的技术，****的良将，能够应付各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。由于是电子仪器，膜厚仪，校准容易，可以实多种功能，扩大量程，****精度，由于测试条件可降低许多，膜厚仪，故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示，精度和重复性都不好，荧光光谱测厚仪膜厚仪，后来发展了数字显示式，电路设计也日趋完善。

如何使用膜厚仪测量的更加准确

曲率：

不应在试件的弯曲表面上测量。

读数次数：

通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

表面清洁度：

测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

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1.系统误差的来源

(1)标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。

(2)标样和试样的物理性能不完全相同时，激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。

(3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属*结构不相同时，测出的数据会有所差别。

(4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时，混入未知合金元素而引入系统误差。

(5)要消除系统误差，必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差，就需要采用化学分析方法分析多次校对结果。