一六仪器(图)、镀层测厚仪、测厚仪

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们****的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名*通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、****的解谱方法和EFP算法结合*****及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、*工等制造领域。

****的技术，****的团队，X射线测厚仪，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。

镀层厚度分析仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，测厚仪，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中*种是有损检测，镀层测厚仪，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测****薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆

层测厚时采用。