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关于IC使用寿命，许多公司都有自己的标准来确定产品的质量。

老化测试是系统组件在投入使用之前（并且通常在系统与这些组件完全组装之前）运行的过程。这个测试过程将强制在监督条件下发生某些故障，以便了解产品的负载能力。

目的是检测那些由于部件可靠性的初始高故障率部分而失败的特定部件。如果预烧时间足够长（并且可能人为压力），那么一旦完成预烧过程，治具定做 ，系统就可以被信任为基本没有进一步的早期故障。

从理论上讲，任何微弱的部件在“老化”时间内都会失效，从而允许更换这些部件。更换薄弱的部件将****过早失效，失败或存在其他潜在缺陷

当应力的等效寿命延长到故障率曲线的增加部分时，老化的影响是产品寿命的缩短。在成熟的生产中，治具厂，确定是否存在降低的故障率并不容易。为了确定非常低百分比的生产失败时间分布，仲恺治具，人们必须销毁大量的设备。通过强调所有设备一定的老化时间，具有高故障率的设备首先出现故障，并且可以从队列中取出。因此，通过应用老化，可以避免由于老化过程而导致的产量降低（折衷）而提前使用的系统故障。

如果可能的话，治具厂家，消除早期故障的根本原因，而不是进行老化。正因为如此，使用老化的过程可能会逐步淘汰，因为找出并消除各种故障的根本原因。

对于电子元件，老化常常在升高的温度和可能升高的电压下进行。这个过程也可以被称为热浸。这些组件可能正在进行连续测试或者在老化期结束时进行简单测试。

测试治具目前的应用越来越广泛，其中测试针是测试治具的重要组成部分之一，也是直接影响测试治具质量的关键因素，那么测试针究竟有什么****呢?下面一起来百通先小编来了解一下。

　　测试治具测试针具有的3大****：

　　1、****的*间断电接触设计：行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值，任何因探针导致的假性开路误叛。

2、增强*度：测试针设计使弹簧空间比传统探针要大，因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。

　　3、目标测点****度误差更严谨：测试治具测试针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点****度。

　　以上3点就是测试治具测试针的****，所以它也是测试质量的重要因素，如果有需要购买测试的朋友可以联系我们。

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