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北京冠测(多图)、江西省体积电阻率测试方法组图

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北京冠测(多图)、江西省体积电阻率测试方法组图

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北京冠测(多图)、江西省体积电阻率测试方法组图产品详情

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测量范围:测量半导电电阻率时: 电阻率10-4--105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm

测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ

显示4 1/2 位数字显示0—19999具有****性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

测量误差 2mA档±(0.5%读数 8字);20mV—2V挡±(0.5%读数 2字)

电流输出:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA.

电位电****:宽度50mm,接触半径lt;gt;

电磁铁电源:具有直流与交流电流模式;要采用*的双****四相限电源,提供平滑

的零磁场转换功能和断水断电保护功能;要求为水冷模式,减少测试噪音,冷却效果充

分,体积电阻率测试方法推荐,确保电子器件的有效散热,设备稳定性好,寿命长。


仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。三、基本技术参数1. 测量范围、分辨率 电 阻: 0.010 ~ 9999Ω, 分辨率0.001 ~ 1 Ω 电 阻 率: 0.010~ 2000Ω-cm, 分辨率0.001 ~ 1 Ω-cm 方块电阻: 0.050~ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ~ 1 Ω/□2. 材料尺寸 手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台和测试方式决定 直 径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm。 SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。 长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm。. 测量方位: 轴向、径向均可.


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