哈尔滨市体积电阻率测试方法怎么样,冠测精电(推荐商家)

1）系统可获得的数据结果包括：电阻、电阻率、霍尔系数、霍尔迁移率、载流子浓度，

测量数据实时反馈。

2）测量方法：范德宝法，Hall Ba*21 和1331

3）可测材料：半导体材料、电磁材料、太阳能电池等材料。

4）*系统采用模块化设计，将来可以扩展AC 模式测量：对于迁移率范围在1×10-3 到

1 cm2/Vs 的材料（例如目前有很多在研制的低迁移率材料，太阳能电池，薄膜透明氧化

物等）可以进行准确的测量，测量的重复性和稳定性好，克服了直流磁场霍尔效应在测

量低迁移率材料时出现的结果重复性差，P/N 无法准确判断的问题；将来可以扩展测量

电阻为200 GΩ的高阻材料；

半导电电阻测试仪是根据*标准GB3048.3研究成功的精密测量设备，主要用于测 量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻，也可使用四端子测试夹，对金属导体材料及产品的低、中值电阻进行测量。

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源，测量结果采用LED数字直接显示，分为3个窗口：电压显示窗口，体积电阻率测试仪查询，材料厚度显示窗口（用户根据实测输入），电阻率显示窗口。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和*标准的要求。

仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、高等院校、科学研究等部门，对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、工艺检测，是必需的测试设备。

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高*碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配*探头，也可测试电池****片等箔上涂层电阻率方阻。 《四探针探头特点与选型参考》点击进入仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下： 直 径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。 SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。. 测量方位: 轴向、径向均可.