杭州市体积电阻率测试仪详情、北京冠测(在线咨询)

全新设计的*宽量程、多路电阻测试仪，采用结构紧凑的插卡式设计，插卡可分为采集卡、报警卡、可任意配置。每张测试卡可对8路电阻进行扫描测试。采用*ARM微处理器控制。真彩4.3寸液晶大可同时显示48路电阻值，并且每个通道可以单独设置比较器，UC2517X可以测试10μΩ～300KΩ的电阻，大显示30，000数。同时还具有选配的温度补偿功能可以适应不同要求的测试。应用于自动化设备，可使用RS232C及HANDLER接口输出GD/NG信号，以****生产自动化测试能力。

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高*碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头等二部分组成，体积电阻率测试方法精华，也可加配测试台。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！ 探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高*碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配*探头，也可测试电池****片等箔上涂层电阻率方阻。

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