北京冠测(多图),贵阳市体积电阻率测试方法在哪里？

影响绝缘材料电阻率的主要因素有以下几种： (1)温度。温度升高，电阻率下降，绝缘电阻减小。 (2)湿度。湿度*，使电阻率下降，绝缘电阻减小。 (3)杂质。绝缘材料的原材料大都存在杂质，绝缘电阻值对绝缘材料中所含杂质的反映很灵敏，杂质增加将使电阻率下降。 (4)电场强度。在较高电场强度作用下，固体、液体电介质中离子迁移能力相应增强，使电阻率下降，绝缘电阻减小，当场强足够大时将形成绝缘材料的击穿。气体的导电机理有所不同，电场强度在一定的范围内，气体因游离产生的电流很小，因而具有良好的绝缘性。当场强足够大时，气体因游离而击穿，若去掉外加电压，体积电阻率测试方法多图，气体又可以恢复绝缘性能。

全新设计的*宽量程、多路电阻测试仪，采用结构紧凑的插卡式设计，插卡可分为采集卡、报警卡、可任意配置。每张测试卡可对8路电阻进行扫描测试。采用*ARM微处理器控制。真彩4.3寸液晶大可同时显示48路电阻值，并且每个通道可以单独设置比较器，UC2517X可以测试10μΩ～300KΩ的电阻，大显示30，000数。同时还具有选配的温度补偿功能可以适应不同要求的测试。应用于自动化设备，可使用RS232C及HANDLER接口输出GD/NG信号，以****生产自动化测试能力。

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高*碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

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