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影响绝缘材料电阻率的主要因素有以下几种: (1)温度。温度升高,电阻率下降,绝缘电阻减小。 (2)湿度。湿度*,使电阻率下降,绝缘电阻减小。 (3)杂质。绝缘材料的原材料大都存在杂质,绝缘电阻值对绝缘材料中所含杂质的反映很灵敏,杂质增加将使电阻率下降。 (4)电场强度。在较高电场强度作用下,固体、液体电介质中离子迁移能力相应增强,使电阻率下降,绝缘电阻减小,当场强足够大时将形成绝缘材料的击穿。气体的导电机理有所不同,电场强度在一定的范围内,表面电阻率测量详情,气体因游离产生的电流很小,因而具有良好的绝缘性。当场强足够大时,气体因游离而击穿,若去掉外加电压,气体又可以恢复绝缘性能。


探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高*碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配*探头,也可测试电池****片等箔上涂层电阻率方阻。 《四探针探头特点与选型参考》点击进入仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下: 直 径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm。 SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。 长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm。. 测量方位: 轴向、径向均可.


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