上海管脚膜厚仪_一六仪器

　在膜厚测定中的能谱表示：由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示，操作简单，资料处理的速度快。

　　充实测量报告的作成机能：采用WINDOW软件，测定画的撷取，非常简便，可充衬测量报告的制作机能。

　　测定物膜厚附著分布表示：以三次元图案来表示测定物膜厚附著状态的分布，作判定时一目了然。。。。

影响膜厚仪测量的的客观因素

应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，管脚膜厚仪，膜厚仪波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。