一六仪器_江苏X-RAY膜厚仪

膜厚仪的特点

　　1、自动对焦作用。配备激光自动对焦作用，能够准确对焦，****量测效率。

　　2、具有焦点距离切换作用，适用于有凹凸的机器部件与电路板的底部进行量测

　　3、 膜厚仪 采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可****在对焦时造成的损坏。

　　4、选用Mo靶材X射线管，X-RAY膜厚仪，量测*更灵敏。

目前涂层测厚仪(膜厚仪）所采用的原理基本是以下几种：

1. *性测厚法：利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵（一般在10万人民bi以上）。适用于一些特殊环境，各项技术参数要求相对比较高，使用范围相对狭窄。

2. 超声波测厚法：利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵，测量精度也不高，国内暂时还没有投入生产。

3. 微波激光测厚法：正在研发中。

4. 电解测厚法：需要*涂层，属于有损检测，基本上已弃用。

5. 涡流测厚法：利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。

6. 磁性测厚法：适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪，这种方法测量结果精度高。

目前国内的涂层测厚仪基本是采用涡流测厚法或磁性测厚法或二者相结合的原理。