一六仪器|江苏X-RAY膜厚仪

膜厚仪的影响因素有哪些

1、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

2、边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

3、曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地*。因此，X-RAY膜厚仪，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

4、试件的变形

测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

膜厚仪测试时有关辐射安全注意事项

幅射安全方面膜厚仪由于使用X射线管而产生辐射。测量头的设计完全符合国际X射线安全要求：1.测量头控制台上的一个*开关通过打开或关闭X射线管上的高压决定X幅射的产生与否；2.一个多级故障自动保险互锁系统可控制X幅射的产生，从而有效保护操作者的安全；3.如果测量门没有完全关闭，X幅射就不会进入测量室；4.足够的遮罩用来减小外部的幅射量。