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菲希尔、正业科技好品质(在线咨询)、德国菲希尔

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菲希尔薄膜厚度测量仪

菲希尔MMS系列涂层镀层测厚仪仪器内的模块BETASCOPE? 的工作原理是基于β背散射法.

只要涂层材料元素和基材材料元素间原子序数的差大于5,则几乎任何基材上的任何材料的涂层厚度都是可以测量的




菲希尔膜厚测量X-RAY系列


样品*简便的特点:

膜厚测量仪XDLM-PCB 200型设计用途:能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXRF),用于测量微小结构上的薄镀层厚度和材料分析

测量元素范围:从元素氯(17)到铀(92),****多可同时测定24种元素。

****小测量点约为:0.16mm

测量距离:0-10mm (0-0.4in),使用受专利保护的DCM测量距离补偿法

X射线探测器:比例*



菲希尔X射线荧光测厚仪XAN110/120系列

菲希尔X射线荧光测厚仪XAN110/120系列产品专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言,只有一个固定的准直器和固定的滤片,特别适合*分析。XAN 110配备比例*,适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体*,更可以应用于多元素的复杂分析。


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